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In situ. Monitoring of monumental surfaces. Atti del Convegno internazionale di studi (Firenze, 27-29 ottobre 2008)

In situ. Monitoring of monumental surfaces. Atti del Convegno internazionale di studi (Firenze, 27-29 ottobre 2008)

di P. Tiano, C. Pardini
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Prezzo: € 48,00
Editore: EDIFIR
ISBN: 9788879703901
Collana: Restauro
Anno Edizione: 2008