Prezzo: € 76,91
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Titolo: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autore:
Joy David C.,
Newbury Dale E.,
Lyman Charles E.,
Goldstein Joseph,
Echlin Patrick
Editore: Springer Verlag
Data di Pubblicazione: 2013
Pagine: 720
Formato: 2
ISBN: 9781461349693